霍爾馬克的塞曼效應儀器（型號：HO-ED-S-04A）是為確定e / m比而設計的，它需要光學，機械，電磁學，現代物理學和數學方面的知識。傳統(tǒng)的塞曼效果器需要更多的操作和測量技能。憑借其**的集成設計，該設備更易于設置和操作，因此學生可以集中精力理解所涉及的原理和理論。
如果橫向觀察，正常的塞曼效應的特征在于光譜線的三重分裂。中間部分保留在原始行的位置。另外兩個分別向較高和較低的波長偏移相同的范圍
標準具是一種光學干涉儀，為了找到標準具的間距，我們使用Holmarc的圖像分析軟件“ Image J”測量了圓形條紋的半徑。
Spacing of the etalon t = nD2λ / χn2
其中 D =標準具與相機之間的距離 n =是環(huán)的數量級 λ=使用的光的波長 χn=兩個連續(xù)環(huán)的半徑之差
玻爾磁子
μB = hc ( ( Δv ? ) / 2 ) / B
其中 （Δv?）/ 2 是σ線之一相對于中心線的波數差異 h =普朗克常數 c =光速 B =磁通密度
Planck’s constant, h = ( μB / c ) . 2B / ( Δv ? )
Speed of light, c = ( μB / h ) . 2B / ( Δv ? )
高斯計用于磁場校準。在電磁鐵的兩*之間引入高斯計探頭。使電流從零變化到*大值，并注意高斯計在不同間隔處的相應場強。
高斯計規(guī)格 范圍：0-20 KG 分辨率：10高斯 精度：+/- 0.5％ 顯示：3?位7段LED 電源：220V +/- 10％，50Hz 傳感器：霍爾探頭-輸入為
二向色性綠色濾光片規(guī)格 類型：添加劑 顏色：綠色 尺寸：50毫米x 50毫米 通光孔徑（％）：≥85 厚度（毫米）：2公稱 表面質量：80-50 入射角（°）：0 底物：浮漂